合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 半導體失效定位測試單元及其失效定位方法

半導體失效定位測試單元及其失效定位方法

682   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:33
本發明公開了一種半導體失效定位測試單元,所述測試單元是位于金屬層中的梳折狀結構,所述測試單元的鍵合線劃分為第一類鍵合線和第二類鍵合線,相鄰的第一類鍵合線之間通過第二類鍵合線連接,所述第一類鍵合線的長度大于第二類鍵合線,其中,所述第一類鍵合線設置在金屬層一中,所述第二類鍵合線設置在金屬層二中,所述金屬層一和金屬層二是不同的金屬層。本發明還公開了一種半導體失效定位方法。本發明的半導體失效定位測試單元及其失效定位方法使用現有失效定位分析儀器能快速、準確抓取故障點(熱點/Hot?Spot)位置的半導體失效定位測試單元。
登錄解鎖全文
聲明:
“半導體失效定位測試單元及其失效定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX