本發明提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法,其包括以下步驟:步驟一:將外觀檢驗合格的樣品進行酸性鹽霧試驗;步驟二:將經過酸性鹽霧試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環境試驗;步驟三:將經過高溫高濕環境試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環境及密閉的加壓環境組合試驗。本發明提供本發明能夠快速篩選剔除早期失效品(制造缺陷),提高液晶重大隱蔽性質量缺陷的篩選不良檢出率,降低產線封存返包及售后故障率。
聲明:
“液晶顯示麻點失效的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)