8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法,涉及微波器件技術領域。本發明包括下述步驟:1)確定SIW結構失效率λG1:2)確定金屬通孔失效率λG2:3)確定SIW轉微帶失效率λG3:4)確定鐵氧體圓柱失效率λG4:5)確定永磁體失效率λG5;6)以下式確定環行器整體失效率λsp:λsp=λG1+λG2+λG3+λG4+λG5本發明的有益效果是:檢測結果可靠,適用范圍廣。
聲明:
“8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)