合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法

8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法

872   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:32
8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法,涉及微波器件技術領域。本發明包括下述步驟:1)確定SIW結構失效率λG1:2)確定金屬通孔失效率λG2:3)確定SIW轉微帶失效率λG3:4)確定鐵氧體圓柱失效率λG4:5)確定永磁體失效率λG5;6)以下式確定環行器整體失效率λsp:λsp=λG1+λG2+λG3+λG4+λG5本發明的有益效果是:檢測結果可靠,適用范圍廣。
登錄解鎖全文
聲明:
“8mm基片集成波導環行器失效率檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX