本發明涉及用熒光材料檢測熒光計的失效或性能惡化,具體涉及一種用于自檢熒光計的失效或性能惡化的系統和方法,包括安裝在載體上以相對于一個或多個固定熒光計移動的熒光參考標準物。使用所述熒光計初始測量所述熒光參考標準物的熒光發射強度,并且在熒光計使用了一段規定時間后,使用熒光計測定熒光標準物的熒光發射強度的測試量值。將所述測試量值與所述初始量值相比較,并且基于所述測試量值與所述初始量值的偏差確定所述熒光計的失效或性能惡化。
聲明:
“用熒光材料檢測熒光計的失效或性能惡化” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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