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可控硅失效檢測與保護方法及其裝置

1164   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:31
本發明公開了一種可控硅失效檢測與保護方法,包括以下步驟:中央處理器檢測電源過零信號是否發生跳變;當可控硅的電壓在過零信號發生跳變后一直小于0.5V或者一直大于4.8V時,對可控硅做開路標記;當可控硅的電壓在過零信號發生跳變后一直處于2.5V至4.0V之間時,對可控硅做短路標記;中央處理器對可控硅運行可控硅保護程序。本發明還公開了一種可控硅失效檢測與保護裝置。本發明所提供的可控硅失效檢測與保護方法及其裝置,準確判斷出故障發生元件是否為可控硅,并通過顯示故障信息及自動切斷負載供電繼電器方式,以方便維修,提高產品安全性能及智能化程度。
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