本申請涉及一種失效分析方法、計算機設備和存儲介質。失效分析方法包括:獲取目標芯片顆粒內的各IO通道的失效數據,目標芯片顆粒包括m個物理模塊,各物理模塊包括若干IO通道,m為大于等于2正整數;將失效數據進行拆分,形成對應各物理模塊的m組模塊失效數據;根據各模塊失效數據,判定各物理模塊的局部失效類型;根據各物理模塊的局部失效類型,判定目標芯片顆粒的存儲失效類型。本申請能夠有效提高失效分析效率。
聲明:
“失效分析方法、計算機設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)