本發明提供一種芯片失效的數據分類分析方法及其裝置,其方法為:確定芯片尺寸和類型;確定芯片失效模式;對芯片進行掃描,將芯片中失效位的信息作為原始數據,存儲在數據庫中;將原始數據格式轉換成統一的標準數據格式;對所述標準數據進行分析并分類;顯示分類結果。與現有的技術相比,本發明提供的芯片失效的數據分類分析方法及其裝置通過確定芯片尺寸和類型;確定芯片失效模式,然后采用一維聚類算法分別將橫向和縱向的失效位統計出來,再將其合并,從而大大減少統計的運算量,提高系統的性能,從而能應用于分析具有大容量的存儲產品。
聲明:
“芯片失效的數據分類分析方法及其裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)