本發明涉及一種基于芯片的失效分析平臺及芯片選型方法,該平臺包括:平臺準入模塊,用于判斷欲進入平臺的企業是否滿足準入條件,基于已進入平臺的企業的企業貢獻度給予其不同等級的平臺使用權限;信息采集模塊,用于通過平臺信息采集或者企業信息釋放獲取芯片失效分析信息;平臺管理模塊,用于對失效芯片信息進行審核,針對發布虛假信息企業基于懲戒,并考評企業給予激勵;統計分析模塊,用于利用數學模型對采集信息進行統計分析實現關鍵信息提取。本發明有效的將各種零散的失效分析案例整合起來,實現信息的規范化、統一化管理,消除“信息孤島”,打破信息壁壘,形成可共享的知識平臺;該平臺對于芯片選型和芯片失效快速分析有重要支撐作用。
聲明:
“基于芯片的失效分析平臺及芯片選型方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)