本發明涉及一種用于分析可靠性失效的太陽能組件的方法,包括:(1)將失效組件置于高溫、暗光環境中并保持電注入預設時間;(2)再次進行EL測試和功率測試,獲得處理后的EL測試結果和功率測試結果;(3)將處理后的EL測試結果與初始狀態的EL測試結果相比較,并將處理后的功率測試結果和初始狀態的功率測試結果相比較,若處理后的EL測試結果相對于初始狀態的EL測試結果在第一預設范圍內且處理后的功率測試結果相對于初始狀態的功率測試結果在第二預設范圍內,則分析該失效組件為電池片失效;其他比較結果,則分析該失效組件為封裝材料導致或電池片漿料接觸導致的失效。本發明還提供了相應的裝置。
聲明:
“用于分析可靠性失效的太陽能組件的方法及相應裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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