一種高效的存儲器失效分析方法,可以實現對存儲器單元進行可靠性失效分析圖形顯示的可視化分析方法,能夠高效的分析存儲器單元在可靠性評測時出現的物理地址、失效方式等,幫助快速定位產品的存儲器失效原因;本發明僅提供一種存儲器可靠性失效分析的圖形化方法,并不限于開發者如何模擬和顯示存儲器的物理地址分配,依靠在圖中顯示出存儲單元失效的位置以及形式,直觀的顯示出失效物理地址及分布。
聲明:
“高效的存儲器失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)