本發明實施例提供了一種陶瓷電容失效的分析方法,屬于電子設備中陶瓷電容領域,以能夠準確分析出陶瓷電容的內部缺陷,提高分析成功率。所述陶瓷電容失效的分析方法,包括:對待分析的陶瓷電容進行阻值測試,將測得的阻值記為初始阻值,并根據所述初始阻值判斷所述待分析的陶瓷電容的失效狀態;將所述待分析的陶瓷電容制成金相切片樣品,研磨,在研磨過程中對阻值進行實時測試,并將測得的阻值記為測試值;當所述測試值的變化量超過所述初始阻值的10%時,停止研磨,定位觀察所述待分析的陶瓷電容的缺陷部位;對所述缺陷部位進行綜合分析,確定所述待分析的陶瓷電容的失效原因。本發明可用于陶瓷電容失效的分析中。
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