本發明公開了一種字印痕跡形成時間鑒定方法,順序執行以下步驟:S1:利用近紅外設備提取載體上的形成時間未知的待測字印痕跡中的綜合成分數據并轉換成第一圖譜,利用近紅外設備提取載體上的樣本字印痕跡中的綜合成分數據并轉換成第二圖譜;S2:對第一圖譜進行導數分析和平滑處理得到第一待分析圖譜,對第二圖譜進行導數分析和平滑處理得到第二待分析圖譜;S3:將第一待分析圖譜與第二待分析圖譜進行基礎相關系數分析,若相關系數大于設定的閾值,則判定待測字印痕跡與樣本字印痕跡的形成時間一致。采用本發明的字印痕跡形成時間鑒定方法能夠實現快速、無損、可靠、準確地實現載體上制作形成時間辨識的目的。
聲明:
“字印痕跡形成時間鑒定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)