本實用新型屬于無損檢測領域,具體涉及一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準B型試塊,包括試塊主體以及設置在試塊主體上的兩組人工反射體和兩個探頭標記;所述兩個探頭標記分別刻蝕于試塊主體上下表面且水平距離≥0,兩組人工反射體分別分布于試塊主體左右兩個區域;其中一組人工反射體沿垂直于試塊主體上表面的直線分布,以其中一個探頭標記為圓心,水平距離均為50mm,角度范圍30~85°,且與試塊主體的側面邊界距離≥25mm;另一組人工反射體沿平行于試塊主體上表面的直線分布,以另一個探頭標記為圓心,垂直距離均為25mm,角度范圍5~60°,且與試塊主體的側面邊界距離≥25mm;所述人工反射體的直徑為2mm。校準方便快捷,無相互干擾。
聲明:
“用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準B型試塊” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)