本發明公開了一種水稻紋枯病識別方法、系統、設備及介質,步驟包括:獲取水稻的原始高光譜數據并進行標準化處理,然后計算一階微分光譜特征和連續統去除特征,根據植被指數計算指數特征,將以上特征分別與紋枯病不同染病程度進行相關性分析并結合閾值法選取出第一光譜特征集,根據獨立樣本T檢驗方法篩選出以上在不同染病程度的作物樣本中呈現顯著差異的第二光譜特征集,從第一光譜特征集與第二光譜特征集中取交集得到最優光譜特征集,將最優光譜特征集輸入支持向量機模型得到識別結果,通過識別結果評估水稻品種紋枯病抗病程度,以快速、無損的方式完成紋枯病發病調查,并解決了人工田間調查數據冗余度高、主觀性高與監測精度差的缺陷。
聲明:
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