本發明屬于無損檢測相關技術領域,其公開了一種導波激勵源特性分析方法,該方法包括以下步驟:(1)獲取導波傳感器在構件中形成的激勵源分布函數在柱坐標系中的數學表達式;(2)將構件非中心軸上的任一點作為原點,并將構件沿圓周方向的柱面展開為無限大平面;(3)對激勵源沿構件圓周方向的分布函數進行傅里葉級數展開,進而獲得激勵源的歸一化周向幅值參數;(4)對激勵源沿構件軸向的分布函數進行傅里葉積分變換,進而獲得激勵源的歸一化軸向幅值參數;(5)結合構件的頻散曲線、導波的波結構、歸一化軸向幅值參數及歸一化周向幅值參數來分析激勵源在構件中的導波激勵特性。本發明算法簡單,易于實行,靈活性較好,適應性較強。
聲明:
“導波激勵源特性分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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