本發明提出了一種小角X射線散射的雙模型擬合方法,包括:獲取步驟:獲得被分析對象的散射強度實驗圖譜;建模步驟:根據散射強度實驗圖譜的特征構建雙模型;解析步驟:調整各向同性散射體的散射強度計算公式模型和取向散射體的散射強度計算公式模型中的各可調參數,使得各向同性散射體的散射強度計算公式模型和取向散射體的散射強度計算公式模型相加后得到的計算圖譜與所述散射強度實驗圖譜之差最小,即可解析出各模型的參數。本發明還提出了一種小角X射線散射的雙模型擬合系統。本發明為利用小角X射線散射進行有效觀測材料介觀尺度結構的無損檢測提供了更好的數據支持。
聲明:
“小角X射線散射的雙模型擬合方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)