本發明提供一種基于散射場信息的超聲蘭姆波層析成像方法,涉及超聲波無損檢測領域,所述方法包括步驟1:獲取待測試件缺陷的散射場數據;步驟2:基于散射場數據,利用缺陷重構算法重構待測試件缺陷的形狀和大小。本發明利用超聲蘭姆波與待測試件缺陷相互作用產生散射場數據,基于散射場數據,使用衍射層析投影定理重構缺陷的形狀和大小。
聲明:
“基于散射場信息的超聲蘭姆波層析成像方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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