本發明公開一種太赫茲圖像聚類分析方法及系統,包括:生成樣本的太赫茲無損檢測圖像庫;遍歷所述太赫茲無損檢測圖像庫選出待檢索圖像;提取所述待檢索圖像和所述圖像庫中所有圖像的特征點;隨機生成多個初始聚類中心;根據所述初始聚類中心對所有的所述特征點進行聚類;統計所述待檢索圖像和所述圖像庫中每張圖像在每個聚類中的特征點個數,根據所述特征點個數與設定維度構建特征向量;每張圖像對應一個多維的特征向量;計算所述待檢索圖像的特征向量與所述圖像庫中所有圖像特征向量的匹配度,得到一組匹配度最高的圖像。采用本發明中的方法或系統實現了檢測目標缺陷的全方位、定性的準確識別。
聲明:
“太赫茲圖像聚類分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)