本發明公開了一種太赫茲器件用碳納米管取向度測量裝置及方法。壓板布置在底板的上面,定向排列碳納米管陣列布置在基底,定向排列碳納米管陣列和基底共同布置在壓板和底板之間,且被壓板和底板壓緊在中間;壓板上面鉸接地安裝有頂板;頂板上布置有多個轉子電極,壓板上布置多個和定向排列碳納米管陣列接觸的定子電極,轉子電極上端連接電阻測量儀器的兩端,轉子電極下端穿過頂板后和壓板上的定子電極電連接。利用碳納米管的電學偏振性,通過簡單、快速和無損的方法獲取定向排列碳納米管陣列的取向度,解決了現有技術中通過光學、掃描電鏡等方式測量碳納米管陣列取向度存在的破損、時間長等問題。
聲明:
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