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芯片的供電測試治具

1094   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:37
本發明提供一種芯片的供電測試治具,包括:芯片底座,所述芯片底座上設有多個芯片限位槽和芯片限位擋臺,所述芯片限位槽與芯片限位擋臺連接,所述芯片限位槽內設有芯片,所述芯片限位槽和所述芯片限位擋臺相互配合對芯片進行限位,所述芯片上設有電路板,且所述芯片與所述電路板可拆卸式電連接以能夠實現對芯片的供電測試;這樣不僅在芯片的供電測試過程中實現了對芯片的無損限位,更避免了在測試過程中探針對芯片表面焊盤測試定位難和劃傷芯片表面焊盤的技術問題,提高了生產效率的同時還降低了生產成本。
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“芯片的供電測試治具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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