合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 無損檢測技術

> 測量半導體材料表面微結構缺陷的顯微成像裝置和方法

測量半導體材料表面微結構缺陷的顯微成像裝置和方法

833   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:33
本發明公開了一種測量半導體材料表面微結構缺陷的顯微成像裝置和方法。所述測試裝置包括:光源、偏振調制反射差分系統、分光棱鏡、掃描平臺、共聚焦顯微系統、信號采集系統。根據光彈性效應原理以及晶體缺陷理論可知,半導體材料表面的微結構缺陷雖然自身很小,但是會在其周圍產生一個相對自身很大的應變分布場,而該應變場會產生光學反射各向異性信號,該測試方法通過測量微結構缺陷周圍每一測量點處光學反射各向異性信號,從而可以直接獲得微結構缺陷附近與應變場相關且隨著空間位置變化的光學反射各向異性顯微成像圖,進而獲得缺陷的種類、密度和應變分布等信息。本發明對材料微結構缺陷的表征具有操作簡便快捷、無損傷、可移植性強等優點。
登錄解鎖全文
聲明:
“測量半導體材料表面微結構缺陷的顯微成像裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
無損檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX