本發明公開了一種中子衍射殘余應力測定裝置與方法,該裝置使用反應堆中子源,經過單色器單色化后,得到所需的某一波長的單色中子束流,并利用該中子束流進行殘余應力的測定。由于中子不帶電荷,和物質相互作用時與核外電子幾乎沒有作用,不需克服電荷庫侖力障礙,因而能量較低的中子也能進入到原子內;大多數材料對中子吸收也很低,所以入射中子束的穿透深度較深。同時通過準直器和狹縫準直、限定的中子束流還具有很高的空間分辨率,通過三個方向互相垂直的平移與繞測試中心點轉動來實現被測試件的三維、無損和深度的應力測試工作,克服了X射線和同步輻射殘余應力測定裝置只能無損測定晶體材料表面及近表面殘余應力的不足。
聲明:
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