本申請涉及一種光纖和用于測量光纖側面受壓性能的裝置,涉及光纖檢測設備技術領域,光纖具有由內至外依次分布并相連的纖芯、包層和涂覆層,該光纖在勻速放線狀態下,受到小于500克側壓力后光纖的涂覆層無損傷;側壓力是在勻速放線的光纖尾端懸掛與側壓力對應重量的配重,并將光纖支撐于施壓桿上施加于光纖的。通過本申請測試光纖的側壓力的方法,可以更加直觀地觀察光纖的涂覆層是否損傷,并得到對應的極限側壓力,即超過極限側壓力光纖的涂覆層會受到損傷的最大側壓力,且測量的數據更可靠、更準確。
聲明:
“光纖和用于測量光纖側面受壓性能的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)