本發明涉及一種寬波段共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置,屬于光學精密測量技術領域。本發明采用黑體光源通過波長選通系統生成指定波長照明點光源,利用共焦光路對被測透鏡前后表面頂點進行層析定焦,測量得到被測透鏡光學厚度,通過光線追跡算法計算得到透鏡的元件折射率,實現可見到紅外寬波段范圍內任意波長條件下的紅外透鏡元件折射的高精度非接觸測量。本發明無需對被測透鏡進行破壞性采樣,實現了可見到紅外任意波長條件下的透鏡的元件折射率無損直接測量,具有測量過程便捷,測量精度高、抗環境干擾能力強的優點,可為透鏡的元件折射率檢測提供一個全新的有效技術途徑。
聲明:
“寬波段共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)