本發明涉及無損檢測與微波測試領域,具體涉及一種基于近場微波的非接觸高頻微小振動信號測量方法,其特征是:至少包括:微波信號源、激勵源、微小振動樣品單元、計算處理單元和微波測量單元,由計算處理單元輸出控制信號控制激勵源產生激勵信號,激勵源產生的激勵信號輸出至微小振動樣品單元的金屬片上,激勵金屬片產生相應頻率的振動信號并向外傳播;微波信號源產生高頻的微波信號給微波測量單元,由微波測量單元獲取金屬片攜帶的振動信號進行定量表征,給出高頻微小振動信號。它能夠完整的對相對速度較低的信號進行調制,能夠保證整體的振動信號測量具有完整性。
聲明:
“基于近場微波的非接觸高頻微小振動信號測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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