本發明公開了一種多維度正電子湮沒壽命譜和多普勒展寬譜測量系統,多維度正電子湮沒壽命譜測量系統和多普勒展寬譜測量系統中均包括反符合系統和三維移動系統。所述的反符合系統包括依次相連的正電子探測器、第一前置放大器、第一譜放大器、第一單道分析器、符合器;正電子探測器由閃爍片和光電倍增管通過硅油耦合組成,放射源為同位素放射源,其直接滴于閃爍片上。所述的三維移動系統用來裝載樣品并使樣品在三維方向移動。本發明采用反符合系統實現非樣品中湮沒信息的排除,可提高探測的可靠性和探測精度;采用三維移動平臺調整樣品與正電子探測器間的距離和方位,可實現單塊不規則樣品多維度缺陷的精確無損檢測。
聲明:
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