本發明公開了一種基于電子鼻的大米受曲霉屬真菌侵染程度的預測方法。將大米經過紫外滅菌后,接種曲霉屬真菌。使用電子鼻對不同貯藏時間的大米接種后的樣品進行頂空氣體檢測;采用平板計數法檢測大米樣品上的菌落數;根據主成分分析對電子鼻傳感器陣列進行優化,使用穩定值法對優選后的傳感器響應信號進行特征提取。最后采用改進的基于遺傳算法優化的支持向量機(GA?SVM)算法建立基于電子鼻信號特征值和菌落數的預測模型,選擇其中相關系數大而均方根誤差小的回歸模型作為最終的菌落數預測模型,從而獲得預測的菌落數。本發明提供了一種快速預測大米受曲霉屬真菌侵染程度的方法,對大米樣本無損害,操作簡單,并具有良好的預測效果,具有較高的實際應用價值。
聲明:
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