本實用新型公開了一種高低兩組各三方向投影的三維測量裝置,涉及電路板的檢測領域,包括由上至下依次設置的取像裝置、第一安裝塊、第二安裝塊;所述第一安裝塊的三個側面上分別安裝有三組第一光柵投影裝置,每組第一光柵投影裝置的投影光線與相機中軸線的夾角β1相等;所述第二安裝塊的三個側面上分別安裝有三組第二光柵投影裝置,每組第二光柵投影裝置的投影光線與相機中軸線的夾角β2相等;所述夾角β1的角度小于夾角β2;所述第一光柵投影裝置與第二光柵投影裝置交錯設置。本裝置可以實現被測物高度最高到10mm的無損光學測量,有效減小了光線投射被測物產生的陰影對檢測精度的影響,具有通用性強、測量精度高的優點。
聲明:
“高低兩組各三方向投影的三維測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)