本實用新型為一種可調諧波長干涉三維形貌測量裝置,屬于光學精密檢測技術領域。測量裝置由可調諧激光器、第一分光裝置、反射鏡、第一擴束系統、第二擴束系統、相移裝置、第二分光裝置、相機組成,通過激光調諧、光場解算等技術,實現物體表面三維形貌測量。本實用新型測量裝置具有對被測表面粗糙度的適應范圍寬、量程適配性強、非接觸、高精度等特點,能夠實現對待測件的無損檢測,可廣泛應用于半導體、光學、航空航天等高精密檢測領域。
聲明:
“可調諧波長干涉三維形貌測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)