本發明涉及無損檢測領域,具體涉及一種用于相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價方法。采用相控陣超聲儀器激發相控陣探頭晶片中每個晶片產生超聲波入射到相控陣探頭楔塊底面產生的回波信號,通過回波信號的幅度判定晶片的有效性。本發明方法操作簡單、實用,便于攜帶,無輻射,無污染,在檢測過程中能及時測試晶片的好壞,能保證檢測靈敏度和檢測結果的準確性,也能提高檢測效率。適宜作為相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價方法的應用。
聲明:
“用于相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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