本發明公開了一種利用太赫茲波測量熱障涂層陶瓷層厚度的方法,利用反射式太赫茲時域光譜裝置獲取垂直入射信號和從樣品表面反射的太赫茲信號;分別獲取入射信號與樣品反射信號的峰值并計算入射波與反射波的能量比;借助于波阻抗計算物質的折射率;從樣品反射信號中提取前兩個峰的延遲時間,進而計算出陶瓷層厚度。本發明提出的方法無需制作標準試件和建立復雜的理論模型,能夠為熱障涂層陶瓷層的厚度提供一種操作簡單、快速、無損的檢測方式。
聲明:
“基于太赫茲技術的熱障涂層陶瓷層厚度測量新方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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