本發明公開了一種電子紙模組,包括TFT模組,所述TFT模組的中部設有顯示區域,所述TFT模組上設有一圈金屬環繞線,所述金屬環繞線靠近TFT模組的邊緣布線,且所述金屬環繞線的兩端接近但保持間距。通過修改TFT模組的結構設計,在TFT模組的崩邊規格參數范圍內,于TFT的邊緣靠內走一圈金屬環繞線。后續在大板上將一個個設有金屬環繞線的小片TFT切割下來后,將各TFT模組的金屬環繞線與測試電路連接,如果測得電路可以導通說明金屬環繞線無損傷,也即證明該片TFT模組沒有崩邊或暗裂質量問題,反之則證明檢測產品不合格。
聲明:
“電子紙模組及檢測其崩邊暗裂的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)