本發明公開了一種對葉表結構不敏感的葉綠素含量的檢測方法,涉及利用光學手段來測量葉綠素含量的方法技術領域。所述方法包括:獲取植物葉片表面高光譜反射率;測量葉綠素含量;對九種類型的植被指數和葉綠素含量建立回歸方程,求取相關系數和均方根誤差;對三十六種已發表的植被指數和葉綠素含量建立回歸方程,求相關系數和均方根誤差;確定對葉綠素含量變化最敏感和最不敏感的波段;確定九種類型的植被指數中對葉表結構最不敏感的植被指數類型;基于葉片正反面光譜信息開發新的估測葉綠素含量的植被指數,使用新的對葉表結構不敏感的植被指數檢測植物葉片的葉綠素含量。所述方法能快速、準確、無損的檢測植物葉片中葉綠素的含量。
聲明:
“對葉表結構不敏感的葉綠素含量的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)