基于太赫茲時域光譜的材料表面光潔度檢測方法,屬于太赫茲應用技術領域。本發明是為了解決現有的探針法不適用于帶涂層的材料表面光潔度的檢測的問題。本發明首先制作一系列標準試件,然后測量標準試件特定區域中多個點處的太赫茲時域反射信號,應用傅里葉變換得到頻域譜;然后采用相關分析確定用于光潔度檢測的最優頻率點,求出多個點處的太赫茲數據特征的平均值,然后采用數據擬合的方法建立標準試件的光潔度檢測模型;再測量待測試件多個點處的太赫茲時域光譜反射信號,應用傅里葉變換得到頻域譜;最后選擇最優頻率處的太赫茲數據特征,并調用光潔度檢測模型計算待測試件的光潔度值。本發明的檢測方法具有無損、非接觸和快速的優點。
聲明:
“基于太赫茲時域光譜的材料表面光潔度檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)