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基于Mie散射檢測玻璃內部氣泡缺陷的方法

1170   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:11
本發明公開了一種基于Mie散射檢測玻璃內部氣泡缺陷的方法,本發明利用Mie散射原理分析高斯光束經過玻璃內部氣泡發生散射的過程,利用CCD探測裝置探測到高斯光束經過玻璃內部氣泡后散射灰度圖像,經過平滑及線性分環計算出散射光強隨角度變化的分布曲線,利用單純形優化算法計算出氣泡的粒徑大??;并通過改變CCD探測裝置的測量位置得到不同位置的光強分布圖,根據光強分布極值位置計算出氣泡的深度。本發明為玻璃內部氣泡缺陷檢測提供了一種高精度的無損檢測方法,可實現玻璃內部微米及亞微米量級氣泡粒徑及深度的精確檢測。
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“基于Mie散射檢測玻璃內部氣泡缺陷的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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