本發明公開了一種大米質量檢測方法,準備一臺計算機、一臺高光譜儀設備,高光譜儀設備預熱及軟件安裝;對高光譜儀采集系統進行校準和參數設定;將待檢測大米平鋪在移動采集平臺上;高光譜儀采集數據;對采集數據進行預處理;大米高光譜圖像特征選擇、提取與分析。與現有技術相比,本發明具有如下有益效果:利用高光譜儀對待檢測大米移動檢測,對采集數據進行分析,可實現大米質量的快速、無損檢測,檢測結果即時、高效、客觀、準確,豐富了現有檢測技術的體系,進一步保障了大米市場的健康有序發展,保護消費者的合法權益及國家糧食安全。
聲明:
“大米質量檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)