本發明公開了一種基于FDFWM光譜技術的同位素檢測方法:將一束激光分為光程相等的三束光;調節三束光的空間位置;將三束光聚焦,該三束光與位于聚焦點的待測同位素樣品相互作用產生FDFWM信號;掃描激光器的中心頻率,用光電探測器測量待測同位素樣品的FDFWM信號,獲得FDFWM信號隨激光器中心頻率變化的FDFWM信號譜;根據FDFWM信號譜獲得待測同位素樣品的含量信息。本發明的方法能夠提高同位素檢測靈敏度,實現近無損檢測,使用本發明的方法來檢測同位素,能夠降低檢出限、減少取樣量,且使用設備相對簡單,便于操作,具有超高靈敏度和檢測精度。
聲明:
“基于前向簡并四波混頻的超高靈敏度同位素檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)