一種結構缺陷檢測系統,包括:激光器(1)、分光鏡(2)、擴束鏡(3)、半透半反鏡(7)、聲波發生器(4)、聲波頻率調節器(5)、成像透鏡(6)、光電傳感器(9)、計算機(8);計算機(8)控制聲波發生器(4)發出聲波信號;激光器(1)發出的激光形成了干涉光路,干涉光路在光電傳感器(9)上形成散斑干涉場,生成散斑圖像;光電傳感器(9)將散斑圖像傳輸至計算機(8)進行被測物體的缺陷檢測。此外,還包括一種結構缺陷檢測方法。采用該技術方案能夠檢測消費電子產品內部復雜、細小電子器件的裝配缺陷,是一種非接觸、高精度、在線式、實時性的無損檢測方法。
聲明:
“結構缺陷檢測系統及結構缺陷檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)