在用于分析和評估對象(SW)的無損非接觸分析 系統中,光束產生/調制裝置12發射調制聚焦光束(MLB)以由 此照射對象(SW),并且調制聚焦光束的調制由一系列規則脈沖 組成的調制信號(MO-S)實現。磁性檢測裝置(22)檢測磁場(MF) 并由此產生磁場信號(MF-S),此磁場由用調制聚集光束照射 對象而激發的電流產生。信號提取電路(24)提取在參考信號(RE -S)和磁場信號(MF-S)之間的相差信號(PDF-S)。圖像數據 產生系統(圖14)基于相差信號(PDF-S)產生相差圖像數據 (PDFij)。
聲明:
“無損非接觸分析系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)