本發明公開了一種三維模型采動裂隙發育特征無損探測方法,屬探測技術領域。該方法利用等離子體的導電性和流動性,將等離子體充入三維模型開采后的裂隙當中,提高模型中裂隙巖層的導電性,解決了電法探測由于高阻屏蔽導致的裂隙發育程度探測精度不高的問題,提高了電法探測的準確性和高效性。該方法包括4個步驟:三維模型建立及導管鋪設、電極測線布置、等離子體充填、開采和數據采集。本發明可實現采動裂隙發育特征的三維探測,具有探測范圍廣、準確性高,有效提高探測效率等優點。
聲明:
“三維模型采動裂隙發育特征無損探測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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