本實用新型推出一種磁體快速無損測試儀,其測試磁路由測試筆頭、氣隙、導磁墊塊、磁體限位活動墊塊、待測磁體、溫度校正套環和充消磁線包構成,磁體限位活動墊塊活動進出外側套有溫度校正套環的待測磁體,將其限位于外部裝有氣罩的充消磁線包中心孔的中央并與磁體限位活動墊塊等構成閉合磁回路。采用溫度校正套環和合理的冷卻方式,使測試結果不隨溫度變化,測量精確,簡便快速,不易損傷磁體,可廣泛應用于磁體生產測試中。
聲明:
“磁體快速無損測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)