本實用新型公開了一種LED的光學無損測試裝置,其包括操作臺和屏蔽上罩,所述操作臺與所述屏蔽上罩的接合端設有屏蔽材料層,當所述操作臺與所述屏蔽上罩閉合時形成全封閉的空腔,于所述空腔內至少設有一個測試腔,所述測試腔內設有產品治具,對應所述產品治具設置有用于獲取產品的實時圖像參數信息的攝像頭和用于所述測試腔自檢的喇叭,所述攝像頭和所述喇叭分別電性連接于數據分析裝置。本實用新型的結構為全封閉式,通過設有用于獲取實時圖像參數信息的攝像頭,可精確地分析檢測出LED的發光強度和色溫,保證測試數據的實時性和可靠性,且其接合端設置有屏蔽隔離層,有效地提高測試的穩定性和精確度,避免外界干擾因素對測試造成影響。
聲明:
“LED的光學無損測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)