本發明涉及集成電路中罕見向量序列激活型硬件木馬的無損檢出方法。該方法包括:為待測集成電路提供相應測試環境;為待測集成電路產生罕見向量序列;以罕見向量序列激勵待測集成電路,測試待測集成電路的特性參數和功能作用是否異常,如果異常,檢出被植入硬件木馬的集成電路并記錄破壞方式?;诒景l明,可以使被植入硬件木馬的集成電路在進入應用系統前被檢出,避免應用系統受到硬件木馬的威脅,保證重要系統中關鍵設備的安全。
聲明:
“集成電路中罕見向量序列激活型硬件木馬的無損檢出方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)