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γ背散射成像無損檢測方法與裝置

1178   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:56
本發明屬于核技術應用領域,該方法是將檢測單元設置在被檢客體的同一側;由射線源射出的γ射線束周期性地掃描客體;由探測器同步測量客體被γ射線束照射時各部位產生的背散射,并將測得信號按時序排列、轉換為被檢客體的二維的背散射數字圖像;該裝置包括輻射防護屏蔽裝置及設置在其內的γ射線源、探測器與信號采集與處理單元,γ射線源及其輻射防護屏蔽裝置、探測器為由一個或多個器件組成背散射探測器。本發明具有使被檢客體內有機物的影像自動“加亮”的功能,且體積小,并解決了空間分辨率與探測器靈敏度的矛盾。
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