本發明公開了一種基于旁孔繞射波分析的基樁質量無損檢測方法,屬于地基基礎試驗檢測領域。本發明是利用地震波傳播過程中的繞射現象來分析基樁的缺陷位置和樁底位置。地震波傳播到樁身缺陷和樁底等間斷點,就會像物理光學中光線通過一個小孔發生衍射現象一樣,這些間斷點都可看成是一個新震源,由此新震源產生的繞射波向周圍土體傳播。在基樁旁成孔,利用工程地震儀沿測試孔深度方向接收從樁身缺陷和樁底等間斷點傳播過來的繞射波。將接收到的繞射波信號生成時間?深度波列圖。在波列圖上,上行繞射波與下行繞射波的信號交匯點對應深度為樁身缺陷或樁底等間斷點的位置深度。繞射波分析方法不但可以檢測一般狀態下的基樁質量,還可以檢測既有建筑物下基樁質量和長樁長基樁質量等傳統檢測方法難以解決的問題。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)