本發明公開了一種珍珠珠層厚度的無損檢測方法,包括:利用X射線放射源逐一照射兩個待測物體,得到兩個初始圖像;依據像素點的灰度值,判斷一個像素點是否為邊界點,從而從初始圖像中識別出待測物體圖像的所有的邊界點;對于標準球體,利用識別出的邊界點擬合成一個圓,并以該圓的半徑為標準球體圖像的半徑R0;對于待測珍珠,利用識別出的邊界點擬合成三個同心圓,其中,以位于中心的一個圓的半徑為珠核圖像的半徑R2,以位于最外側的一個圓的半徑為待測珍珠圖像的半徑R1;待測珍珠的半徑為r1=μR1,珠核的半徑為r2=μR2,則珠層厚度為r=r1-r2,其中,比例系數μ=r0/R0,r0為標準球體的半徑。本發明實現了珠層厚度的計算,測量結果更為準確。
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“珍珠珠層厚度的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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