本發明公開了一種熱柵格掃描熱成像無損檢測方法,通過熱像儀記錄柵格熱源在薄膜表面形成的穩態熱波的溫度信號,對薄膜內部的水平和豎直方向的裂紋進行檢測;本發明的檢測方法,降低了對熱像儀采樣頻率和信號靈敏度的要求,受薄膜表面的各種缺陷干擾少,比如表面顏色、表面元素分布等,對熱像儀信號的靈敏度要求低,尤其適用于對可以承受高溫的薄膜。
聲明:
“熱柵格掃描熱成像無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)