本發明公開了一種微波無損成像目標檢測方法,基于電磁波成像技術及電磁波逆散射原理,以超寬帶微波作為信息探測載體,實現無損重構被測物體3D全息圖像。使用電磁波照射被測物體,基于電磁波定性及定量成像技術分析被照射物體的散射電磁波,重構被測物體幾何結構及物質特征信息,在保證可長時間安全使用的前提下,能夠識別被測目標的特性和種類,且生成被測目標的2D和3D圖像。
聲明:
“微波無損成像目標檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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