本發明公開了一種三光融合無損檢測圖像配準算法,其步驟如下:步驟一:通過紫外、紅外與可見光一體化成像儀對所測物件進行檢測;步驟二:控制變量;步驟三:設計算法;步驟四:獲取最佳值,將所得所有獲得的成像圖紙進行對比,取相似度最接近的幾組圖紙進行立體成像,為最佳立體成像方法,從而結束算法,該三光融合無損檢測圖像配準算法,保證成像后的圖形對比相似度達到要求,方便整體對比出最接近實際情況的圖像,且方便加工人員進行計算,且檢測圖像配準算法中的變量有兩組,可以對整體進行對比計算,增加了整體的成像效果,保證圖像最接近現實情況,做到對電路情況進行充分的成型,從而增加了整體實用性。
聲明:
“三光融合無損檢測圖像配準算法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)