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無損檢測裝置及方法

1160   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:44
本公開涉及一種無損檢測裝置及方法,包括激光器、擴束器、毛玻璃組、光闌、待檢測對象、剪切裝置、成像透鏡、成像器件以及處理器。所述處理器用于根據所述待檢測對象進行加熱前后分別形成的散斑圖強度分布得到相位變化分布,通過相位變化非均勻區域分析出內部缺陷。本發明所述的無損檢測裝置結構簡單,易于實現,可以對所述待檢測對象內部缺陷進行實時在線、全場分布測量。
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